Akademie-Verlag · 1986
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
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- Authors
- Manfred Grasserbauer, Hans J. Dudek, Maria F. Ebel
- Imprint
- Berlin: Akademie-Verlag, 1986
- Language
- German
- Sources
- German National Library record 206027362
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Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek, and Maria F. Ebel. Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS. Berlin: Akademie-Verlag, 1986.
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Grasserbauer, Manfred, et al. Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS. Akademie-Verlag, 1986.
APA
Grasserbauer, M., Dudek, H. J., & Ebel, M. F. (1986). Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS. Akademie-Verlag.